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Optimierung & Charakterisierung der Oberflächenprofi laufnahme mit dem Nanoindenter XP
bei Institut für Oberflächentechnik in Aachen
Das Institut für Oberflächentechnik ist eine der führenden Forschungsstellen für angewandte Schichttechnologien. Die Gruppe Modellierung und Simulation ist tätig im Bereich der Entwicklung geeigneter Simulationsmodelle und der Durchführung von Simulationen der wichtigsten Beschichtungsprozesse (PVD, APS, etc.) sowie Mikrosystemtechnik. In Grundlagenuntersuchungen beschäftigen wir uns mit industrienahen Forschungsthemen.
Thematik:
Der Nanoindenter XP bestimmt den tiefenaufgelösten Verlauf (100 nm - 2 μm) der Härte und des E-Moduls in dünnen Schichten. Dies geschieht durch das Eindringen einer Diamantpyramide (Indentor) in die Schicht und Aufzeichnung des Weg- und Kraftverlaufs. Durch eine Systemerweiterung kann nun auch ein Oberflächenprofil aufgenommen werden, indem bei konstantgehaltener Kraft der Indentor über die Oberfl äche gefahren und dabei die Höhenänderungen aufgezeichnet werden.
Aufgabenstellung:
Gegenstand der Arbeit ist die Optimierung und Charakterisierung der Profilbestimmung von Oberflächen mit dem Nanoindenter XP. Dazu soll für Proben unterschiedlicher Oberflächenbeschaff enheit der Einfluss auf die Profilbestimmungsgenauigkeit durch Variation von Parametern wie Verfahrgeschwindigkeit des Diamanten und Eindringkraft bestimmt werden. Gleichzeitig werden die Ergebnisse mit anderen Oberflächenprofile bestimmenden Geräten, wie dem Laserprofilometer oder dem Tastschnittmessgerät verglichen. Ziel ist eine Bewertung der Vor- und Nachteile der Verfahren für verschiedene Anwendungsfälle. Die Arbeit umfasst Versuchsreihen am Nanoindenter XP, dem Laserprofilometer, dem Tastschnittmessgerät sowie die Auswertung und Darstellung der Ergebnisse. Spezielle Vorkenntnisse sind nicht erfoderlich. Beginn ab sofort oder nach Absprache
Thematik:
Der Nanoindenter XP bestimmt den tiefenaufgelösten Verlauf (100 nm - 2 μm) der Härte und des E-Moduls in dünnen Schichten. Dies geschieht durch das Eindringen einer Diamantpyramide (Indentor) in die Schicht und Aufzeichnung des Weg- und Kraftverlaufs. Durch eine Systemerweiterung kann nun auch ein Oberflächenprofil aufgenommen werden, indem bei konstantgehaltener Kraft der Indentor über die Oberfl äche gefahren und dabei die Höhenänderungen aufgezeichnet werden.
Aufgabenstellung:
Gegenstand der Arbeit ist die Optimierung und Charakterisierung der Profilbestimmung von Oberflächen mit dem Nanoindenter XP. Dazu soll für Proben unterschiedlicher Oberflächenbeschaff enheit der Einfluss auf die Profilbestimmungsgenauigkeit durch Variation von Parametern wie Verfahrgeschwindigkeit des Diamanten und Eindringkraft bestimmt werden. Gleichzeitig werden die Ergebnisse mit anderen Oberflächenprofile bestimmenden Geräten, wie dem Laserprofilometer oder dem Tastschnittmessgerät verglichen. Ziel ist eine Bewertung der Vor- und Nachteile der Verfahren für verschiedene Anwendungsfälle. Die Arbeit umfasst Versuchsreihen am Nanoindenter XP, dem Laserprofilometer, dem Tastschnittmessgerät sowie die Auswertung und Darstellung der Ergebnisse. Spezielle Vorkenntnisse sind nicht erfoderlich. Beginn ab sofort oder nach Absprache
Veröffentlicht am 22-01-2009
Angesehen: 286 mal
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